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Mini C-Dekade, Kapazitätsdekade

Mini Kapazitäts-Dekade...
...zur Simulation von Bauteilen.

• Modell C1-250, C/1-250 SAB
• Kapazitäts-Dekade: 100 pF bis 11.111 uF
• Entsprechen der Norm IEC1010-1 Kat.1

Die Mini-Dekaden finden aufgrund der einfachen und schnellen aber präzisen Handhabung überall dort ihren Einsatz, wo Schaltungen kostengünstig und in kürzester Zeit mit verschiedensten Bauteilwerten simuliert und getestet werden sollen.

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Mini L-Dekade, Induktivitätsdekade

Mini Induktivitäts-Dekade...
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• Modell L3-250, L/3-250 SAB
• Induktivitäts-Dekade: 1 uH bis 11.11111 H
• Entsprechen der Norm IEC1010-1 Kat.1
  

Die Mini-Dekaden finden aufgrund der einfachen und schnellen aber präzisen Handhabung überall dort ihren Einsatz, wo Schaltungen kostengünstig und in kürzester Zeit mit verschiedensten Bauteilwerten simuliert und getestet werden sollen.

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Mini R-Dekade, Widerstandsdekade

Mini Widerstands-Dekade...
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• Modelle R1-1000, R/1-1000 SAB, R1-3000, R/1-3000 SAB
• Widerstands-Dekade: 1 Ohm bis 11.111111 M Ohm
• Entsprechen der Norm IEC1010-1 Kat.1

Die Mini-Dekaden finden aufgrund der einfachen und schnellen aber präzisen Handhabung überall dort ihren Einsatz, wo Schaltungen kostengünstig und in kürzester Zeit mit verschiedensten Bauteilwerten simuliert und getestet werden sollen.

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Mini RT-Dekade, Widerstandsteilerdekade

Mini Widerstands-Teiler-Dekade...
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• Modell RT1-1000, RT/1-1000 SAB
• Widerstands-Teiler-Dekade: 1 Ohm bis 11.111111 M Ohm
• Entsprechen der Norm IEC1010-1 Kat.1

Die Mini-Dekaden finden aufgrund der einfachen und schnellen aber präzisen Handhabung überall dort ihren Einsatz, wo Schaltungen kostengünstig und in kürzester Zeit mit verschiedensten Bauteilwerten simuliert und getestet werden sollen.

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Mini T-Dekade, Zeitdekade / Timerdekade

Mini Timer-Dekade...
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• Modell MINI-T, T-DEKADE SAB
• Zeitgeber-Dekade: 1 us bis 10 s, 0.1 s bis 1 Ms
• Entsprechen der Norm IEC1010-1 Kat.1

Die Mini-Dekaden finden aufgrund der einfachen und schnellen aber präzisen Handhabung überall dort ihren Einsatz, wo Schaltungen kostengünstig und in kürzester Zeit mit verschiedensten Bauteilwerten simuliert und getestet werden sollen.

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