GS820 Multi DC-Quelle, Source-/Measure-Unit -


 
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
 
   
   
   
   
   
   
   
   
   
 
   
   
   
   
   
   
 
   
   
   
   
   
   
 
   
   
   
   
   
   
   
 
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
 
   
   
   
   
   
   
   
   
   
 
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   

 
   
   
   
   
   
   
   
   
   
 
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
     
   
 
   
   
   
 
   
   
   
   
   
   
 
   
   
   
   
 
   
   
   
   
 
   
 
   
   
 
   
   
   
 
   
   
   
 
   
   
   
   
 
   
   
   
   
 
   
   
   
 
   
   
   
 
   
   
   
   
   
   
 


 
 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 
 
   
   
 
   
   
     
     
     
     
 
 
 

 
 
 
 
 


 
 




 
 
 
 
 





 
 
 
 

 
 
 


 
 
 
 









 
 


Submit order


Einkaufen
Einkaufen
Shopping cart
Shopping cart
Address
Address
Shipping
Shipping
Payment
Payment
Bestätigen
Bestätigen

GS820 Multi DC-Quelle, Source-/Measure-Unit

 

GS820 Multi DC-Quelle, Source-/Measure-Unit

 

  • Programmierbare Multi DC-Quelle / Senke
  • 2 isolierte Kanäle, beide mit gleichzeitig Quellen- und Messfunktion
  • Bis 1 ms Messzeit für schnelle industrielle Anwendungen
  • Quellen- und Messbereiche:
    18V Model (765601/02); bis 7V/3.2A und 18V/1.2A
    50 V Modell (765611/12); bis 20V/1.2A und 50V/0.6A
  • Auflösung 1uV // 1 pA, Basisgenauigkeit 0.02%
  • Generiert arbiträre / programmierbare Kurvenformen aus 100k Punkte Speicher bei bis 100 us Intervallen oder langsamer
  • Kanalerweiterung durch Master-Slave-Synchronisation mehrerer Geräte
  • Schnittstellen: USB, RS-232, GPIB, Ethernet
  • 16-bit digital I/O (Typ 765602/765612)
     

Die 2-kanalige Präzisions- Multi DC-Quelle / Senke GS820 vereint mehrkanalig programmierbare Erzeugung von Spannungen und Strömen mit Multimeterfunktionen zur Datenerfassung und Aufzeichnung von Prüflingskennlinien. Sie ist ideal einsetzbar als DC-Referenzquelle, als Pulsquelle für Lade- Entladevorgänge, als Kennliniendatenerfassung von Halbleitern oder elektronischen Lasten, als Produktions-Test und Prüfgerät.
 

Dokumentation Download: